| 透過電子顕微鏡 | 日立ハイテク H-9000 | 高分解能電子顕微鏡像の撮影および電子線回折による結晶構造解析に使用 |
| 集束イオンビーム電子ビーム加工観察装置 | 日立ハイテク NB5000 | 走査電子顕微鏡観察面のナノスケール加工、組成分析、結晶方位解析に使用 |
| 電界放出形走査電子顕微鏡 | 日立ハイテク S-4300 | 走査電子顕微鏡像の撮影および組成分析、結晶方位解析に使用 |
| 走査電子顕微鏡 | 日立ハイテク TM-1000 | 素材の低真空走査電子顕微鏡観察および組成分析に使用 |
| Ｘ線光電子分光分析装置 | アルバック・ファイ PHI-5450 LC | 素材の最表面を構成する元素の種類や化学結合状態の分析に使用 |
| 走査型蛍光Ｘ線分析装置 | リガク ZSX PrimusⅣ | 固体（塊・粉末）、液体素材を構成する元素の種類と濃度の分析に使用 |
| Ｘ線回折装置 | 日本分光 NRS-3300 | 素材の最表面を構成する分子構造の分析に使用 |
| 原子吸光分光光度計 | 島津製作所 AA-6200 | 溶液中の元素濃度の分析に使用 |
| フーリエ変換赤外分光装置 | 日本分光 FT/IR-6100 | 素材の最表面を構成する分子構造の分析に使用 |
| フーリエ変換赤外分光装置 | 日本分光 FT/IR-4200 | 素材の最表面を構成する分子構造の分析に使用 |
| 熱分析装置 | リガク Thermo plus EVO2 ステーション | 素材の熱的物性変化の分析に使用 |
| アークプラズマ法ナノ粒子形成装置 | アドバンス理工 APD-S | アークプラズマによりナノ粒子の蒸着やナノスケール層の成膜に使用 |
| 接触角計 | 協和界面化学 DMo-501 | 素材の濡れ性や付着仕事の評価に使用 |
| 多機能走査型Ｘ線光電子分光分析装置（導入予定） | アルバック・ファイ PHI 5000 VersaProbe Ⅲ) | 素材の最表面を構成する元素の種類や化学結合状態の分析に使用 |
| 高精度ガス／蒸気吸着量測定装置（導入予定） | マイクロトラック・ベル BELSORP MAX Ⅱ | 素材の比表面積、細孔分布、蒸気吸着量、化学吸着量の分析に使用 |
